半导体技术和热量散发器间
需冷却后的微电子元器件封装及冷却器器/箱体等之前
| 试验楼盘 | 参数设置 | 单位名称 | 试验规定 |
| A组份 | 浅紫色 | - | 目检 |
| B组份 | 黄色 | - | 目检 |
| 硬度 | 2.9(±0.5) | g/cc | ASTM D792 |
| 比调比列 | 1:1 | - | 高质量比 |
| 恒温固有 | 24 | H | 25℃ |
| 高的温度固有 | 15 | min | 100℃ |
| 传热公式 | 3.0±0.2 | W/m.k | ASTM D 5470 |
| 热导率 | ≤0.9 | ℃in2/W @20psi&1mm | ASTM D 5470 |
| 硬性 | 35 | Shore C | ASTM D2240 |
| 拉申抗压强度 | ≥0.15 | Mpa | ASTM D 412 |
| 拓展率 | ≥70 | % | ASTM D 412 |
| 阻燃等级保护等级保护 | V0 | - | UL 94 |
| 运行摄氏度 | -50~160 | ℃ | IEC 60068-2-14 |
| 损坏的电压 | ≥6 | Kv/mm | ASTM D 149 |
| 体型大小阻值率 | ≥1012 | Ω · cm | ASTM D 257 |
| 表面电阻率 | ≥2 | @1MHz | ASTM D 150 |
| 媒质耗费 | ≤0.1 | @1MHz | ASTM D 151 |